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ED400型渦流測(cè)厚儀測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度
更新時(shí)間:2021-07-20   點(diǎn)擊次數(shù):1305次

ED400型 渦流測(cè)厚儀


ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能顯著提高。

儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

 儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

ED400型渦流測(cè)厚儀特點(diǎn)


量程寬

ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到

0~500 μm。

精度高    

測(cè)量精度達(dá)到2%。   

分辨率高              

分辨率達(dá)到0.1μm。     

校正簡(jiǎn)便               

只校正“0"和“50 μm"兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。      

基體導(dǎo)電率影響小

基體材料從純鋁變化到各種鋁合

金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量誤差不

大于1~2 μm。

可靠性提高         

采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。

穩(wěn)定性提高 

采用*溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。

探頭芯壽命長(zhǎng)        

采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。

ED400型渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
  測(cè)量范圍:  0~500 μm
  測(cè)量精度:  0~50 μm:±1 μm;

  50~500 μm:±2%
  分辨率:  0~50 μm:0.1 μm;

  50~500 μm:1 μm;

  0~500 μm:1 μm(可選)
  使用溫度:  5~45℃
  外形尺寸:  150 mm×80 mm×30 mm
  重量:  280 g




ED400型渦流測(cè)厚儀操作方法:

手持探頭的塑料部分,將探頭平穩(wěn)、垂直地落到清潔、干燥的試件上,儀器鳴叫一聲,顯示出膜厚值(測(cè)量時(shí)用力不要過(guò)大,以免損傷探頭)。抬高探頭,重新落下,可完成下一次測(cè)量。探頭抬高的高度應(yīng)大于10mm,持續(xù)時(shí)間應(yīng)大于2秒鐘。一般每一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量5~10次,然后讀取統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。


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