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45MG超聲波測厚儀對內(nèi)部腐蝕的金屬材料厚度測量

奧林巴斯olympus 45MG測厚儀對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量使用雙晶探頭

45MG測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、船體外殼及其它結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中zui常使用的是雙晶探頭。

• 用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能
• 當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)雙回波時，會發(fā)出雙回波警告
• 回波到回波/穿透涂層選項可測量帶有漆層和涂層的表面
• 高溫測量：溫度可高達(dá)500 °C

奧林巴斯olympus 45MG測厚儀B掃描成像（基于時間）

45MG儀器提供的B掃描功能，可在屏幕上將實時厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。在觀察材料厚度在一定距離上發(fā)生的變化時，這個標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。探頭一接觸到材料表面，就會激活B掃描。凍結(jié)zui小值功能用于顯示掃查區(qū)域的zui小厚度值。可選45MG數(shù)據(jù)記錄器zui多可存儲單個B掃描中的10000個厚度讀數(shù)。

奧林巴斯olympus 45MG測厚儀高溫表面

45MG測厚儀配上D932系列探頭（D790、D790­-SM、D790-RL和D790-SL），是測量高溫材料（溫度高達(dá)500 ºC）的理想選擇，并可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補償功能，通過補償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測量的性。