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德國EPK-MiniTest 1100涂鍍層測厚儀

更新時間:2024-06-18

儀器型號:

簡要描述:

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;

  免費咨詢:86-0755-23109332

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德國EPK-MiniTest 1100涂鍍層測厚儀

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

MiniTest 1100涂鍍層測厚儀功能

型號

 

1100

 

2100

 

3100

 

4100

MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

 

1

 

1

 

10

 

99

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,并可設寬容度極限值)

 

-

 

1

 

10

 

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數

 

-

 

1

 

500

 

500

數據總量

 

1

 

10000

 

10000

 

10000

MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

 

-

 

 

 

讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

-

 

-

 

 

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

 

-

 

-

 

 

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

-

 

-

 

 

存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

 

-

 

-

 

-

 

分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

 

-

 

-

 

 

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

 

-

 

 

 

其他功能
透過涂層進行校準(CTC)

 

-

 

 

 

在粗糙表面上作平均零校準

 

 

 

 

利用計算機進行基礎校準

 

 

 

 

補償一個常數(Offset)

 

-

 

-

 

 

外設的讀值傳輸存儲功能

 

-

 

 

 

保護并鎖定校準設置

 

 

 

 

更換電池是存儲數值

 

 

 

 

設置極限值

 

-

 

-

 

 

公英制轉換

 

 

 

 

連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

 

-

 

-

 

 

連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

 

-

 

-

 

 

浮點和定點方式數據傳送

 

 

 

 

組內單值延遲顯示

 

-

 

 

 

連續測量模式中顯示zui小值

 

 

 

 

MiniTest2100涂層測厚儀可選探頭參數探頭圖示
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

德國EPK公司MiniTest 1100涂層測厚儀探頭參數

 

探頭

 

量程

 

低端
分辨率

 

誤差

 

zui小曲率
半徑(凸/凹)

 

zui小測量
區域直徑

 

zui小基
體厚度

 

探頭尺寸

 




 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

F05

 

0-500μm

 

0.1μm

 

±(1%±0.7μm)

 

1/5mm

 

3mm

 

0.2mm

 

φ15x62mm

 

F1.6

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

0.5mm

 

φ15x62mm

 

F1.6/90

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

平面/6mm

 

5mm

 

0.5mm

 

φ8x8x170mm

 

F3

 

0-3000μm

 

0.2μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

0.5mm

 

φ15x62mm

 

F10

 

0-10mm

 

5μm

 

±(1%±10μm)

 

5/16mm

 

20mm

 

1mm

 

φ25x46mm

 

F20

 

0-20mm

 

10μm

 

±(1%±10μm)

 

10/30mm

 

40mm

 

2mm

 

φ40x66mm

 

F50

 

0-50mm

 

10μm

 

±(3%±50μm)

 

50/200mm

 

300mm

 

2mm

 

φ45x70mm

 



 

 

 

 

 

 

FN1.6

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

F0.5mm
N50μm

 

φ15x62mm

 

FN1.6P

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

平面

 

30mm

 

F0.5mm
N50μm

 

φ21x89mm

 

FN2

 

0-2000μm

 

0.2μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

F0.5mm
N50μm

 

φ15x62mm

 




 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

 

0-200μm

 

0.1μm

 

±(1%±0.5μm)

 

1/10mm

 

2mm

 

50μm

 

φ16x70mm

 

N.08Cr

 

0-80μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

2.5mm

 

2mm

 

100μm

 

φ15x62mm

 

N1.6

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

2mm

 

50μm

 

φ15x62mm

 

N1.6/90

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

平面/10mm

 

5mm

 

50μm

 

φ13x13x170mm

 

N10

 

0-10mm

 

10μm

 

±(1%±25μm)

 

25/100mm

 

50mm

 

50μm

 

φ60x50mm

 

N20

 

0-20mm

 

10μm

 

±(1%±50μm)

 

25/100mm

 

70mm

 

50μm

 

φ65x75mm

 

N100

 

0-100mm

 

100μm

 

±(1%±0.3mm)

 

100mm/平面

 

200mm

 

50μm

 

φ126x155mm

 

CN02

 

10-200μm

 

0.2μm

 

±(1%±1μm)

 

平面

 

7mm

 

無限制

 

φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。


 

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